J200飛秒激光剝蝕進樣系統為準確定量的分析元素和同位素測量樣品相匹配的標準物質用的設備，采用長激光脈沖的系統改變剝蝕樣品的數量和化學成分，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，具備智能輸送和補充氣控制功能

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-10-10
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J200飛秒激光剝蝕進樣系統為準確定量的分析元素和同位素測量樣品相匹配的標準物質用的設備，采用長激光脈沖的系統改變剝蝕樣品的數量和化學成分，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體按預定的方式達到設定值，同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態，防止等離子體火焰噴出。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣，功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式。

基本參數：
1、供電要求：110-240VAC,50/60Hz；
2、重量：272Kg；
3、產品尺寸：1780X660X760mm；
4、自動X-Y軸：100mmX100mm行程范圍，分辨率0.2微米；
5、激光脈沖能量：343nm-1030nm；
6、樣品成像光源：泛光LED燈。

設備特點：
1、系統還可以對植物葉片進行深度的分析；
2、可編制成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化；
3、用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式；
4、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態；
5、用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列；
6、易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式；
7、連續可調光學衰減器，集成激光能量監測單元。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式，長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度，用戶可*依靠J200系統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS系統，用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態。